Halk arasında üniversite sınavı olarak da bilinen 2020 YKS için geri sayım sürüyor. İyi bir üniversite hayaline sahip olan milyonlarca öğrenci, 27-28 Haziran tarihlerinde uygulanacak olan TYT, AYT ve YDT oturumları için son çalışmalarını sürdürüyor. Aday öğrenciler bir yandan YKS sınav giriş belgesi başta olmak üzere çeşitli konular hakkında araştırmalarını yapıyor. ÖSYM tarafından geçtiğimiz günlerde yapılan açıklamada, 2020 YKS sınav giriş belgesi sorgulama ekranının erişime açıldığı bildirildi.
ÖSYM tarafından geçtiğimiz günlerde yapılan açıklamada, 2020 YKS sınav giriş belgesi sorgulama ekranının erişime açıldığı bildirildi. Bilindiği gibi, YKS sınav giriş yerleri belgesi ile adaylar TYT, AYT ve YDT oturumlarına nerede, hangi okulda gireceğini öğrenebiliyor.
İşte, ÖSYM AİS ile YKS sınav giriş belgesi sorgulama ekranı;
YKS SINAV GİRİŞ BELGESİ NASIL ALINIR?
Adaylar, sınava girecekleri yer bilgisini gösteren Sınava Giriş Belgesini, ÖSYM'nin https://ais.osym.gov.tr internet adresinden 15 Haziran 2020 tarihinde saat 14.30'dan itibaren T.C. Kimlik numaraları ve aday şifreleri ile edinebileceklerdir.
YKS SINAV GİRİŞ BELGESİ SORGULAMA İÇİN TIKLAYINIZ
ÖSYM'DEN ADAYLAR İÇİN UYARI
2020-YKS 1. Oturum Temel Yeterlilik Testi (TYT) ve 2. Oturum Alan Yeterlilik Testleri (AYT) için adaylar saat 10.00'dan sonra sınav binalarına alınmayacaktır.
2020-YKS 3. Oturum Yabancı Dil Testi (YDT) için adaylar saat 15.30'dan sonra sınav binalarına alınmayacaktır.
SINAV ÖNCESİ ÖSYM'DEN TEDBİRLER
ÖSYM Başkanı Prof. Dr. Halis Aygün, "YKS adaylarına maske ve dezenfektan dağıtılacak. İsteyen aday maske, siperlik ve dezenfektan ile sınava gelebilecek" dedi.
Aygün, "Kovid-19 şüpheli, tanılı veya temaslı adayların, durumlarını sınavdan önce ÖSYM'ye iletmeleri gerekiyor.
YKS'de Kovid-19 durumu olan adaylar tüm sınav merkezlerinde hazırlanan yedek binalarda ayrı salonlarda sınava alınacak" dedi.
ÖSYM Başkanı Prof. Dr. Halis Aygün, YKS adaylarının ailelerine, çocuklarını bıraktıktan sonra okul bahçesinde ve girişinde beklememeleri çağrısında bulundu.
